TTCN-3 und UTP für Schnelleinsteiger
TTCN-3 (Testing and Test Control Notation Version 3) ist ein internationaler ETSI-Standard (European Telecommunications Standards Institute) zur Definition von Testspezifikationen für die meisten Anwendungsdomänen im Umfeld der Informations- und Telekommunikationsindustrie.
Die wesentliche Zielsetzung bei der Standardisierung von TTCN-3 war die Bereitstellung einer einfach erlernbaren formalen Notation zur Plattform-unabhängigen, flexiblen und leicht anpassbaren Beschreibung von Testfällen, Testsuiten und Testumgebungen.
UTP (UML Testing Profile) der OMG (Open Management Group) ist eine auf der UML (Unified Modeling Language) aufbauende Testmodellierungssprache, die die wesentlichen TTCN-3-Konzepte wiederverwendet und für die UML nutzbar macht.
Die Schulung behandelt TTCN-3 und UTP anhand illustrativer Beispiele und ermöglicht den Teilnehmern, mit dem erworbenen Wissen eigene Testumgebungen systematisch zu erweitern.
Inhalt:
- Hintergrund der TTCN-3-Standardisierung
- Übersicht über die wichtigsten TTCN-3-Standarddokumente
- Konformanz- und Interoperabilitätstest
- Kernsprache und Präsentationsformate (Text, Tabellen, Grafiken)
- TTCN-3-Architektur und Testkomponenten
- Übersicht und Zielsetzung von UTP
- UTP-Konzeptgruppen und Testarchitektur
- Spezifikation des Testverhaltens anhand illustrativer Beispiele
- Einsatz und Verwendung geeigneter Werkzeuge und Testumgebungen
Standardtermine
Workshop
Weitere Informationen
Seminardauer: | 1 Tag |
Zielgruppen: | Testingenieure, Testautomatisierer, Testmanager, System Designer, Projektleiter, Qualitätsmanager |
Teilnehmeranzahl: | minimal 4, maximal 12 |
Voraussetzungen: | Grundkenntnisse in Entwicklung und Test erwünscht |
Zertifikat: | Die Teilnehmer erhalten ein Zertifikat über die Teilnahme. |
Referenten: | Dr. Winfried Dulz |
Kosten: | 750,00 EUR zzgl. 19 % MwSt., inkl. Lehrgangsunterlagen, Verpflegung und Erfrischungen Rabatte für Workshops: |
Referent
Dr. Winfried Dulz promovierte 1989 an der FAU Erlangen-Nürnberg und ist seit 1980 wissenschaftlicher Mitarbeiter am Lehrstuhl Rechnernetze und Kommunikations- systeme der FAU, er leitet die Forschungsgruppe DeTes (Design and Test) am Lehrstuhl von Prof. German. Seine Hauptinteressen sind: modellgestützter Entwurf und Test von vernetzten und eingebetteten Systemen, insbesondere in den Anwendungsdomänen IuK, Medizintechnik und Automotive. Er ist beteiligt an Forschungsprojekten / Industriekooperationen, z. B. EU: 2002–2004 Matelo (Markov Test Logic), FhG: 2001–2006 CCIOS (M.o.S.I.S., Q.E.D.), DFG: 1987–1998 SFB 182 (Teilprojekt B3: Entwurf, Implementierung und Bewertung von Kommunikationsdiensten), PKI/Lucent/BMFT: 1993–2002 (SDL/MSC-basierter Entwurf), Vodafone: 2006–2009 (CoCar).
Terminübersicht
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February - 2012 |  |
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